771771威尼斯.Cm(中国)有限公司-官方网站
771771威尼斯.Cm(中国)有限公司-官方网站
Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
首页
光谱共焦位移传感器
光谱共焦位移控制器
光谱共焦镜头
核心产品
光谱共焦位移传感器
光谱共焦位移控制器
光谱共焦镜头
白光干涉仪
激光位移传感器
膜厚仪
应用案例
玻璃行业
面板显示
手机3C
医疗行业
半导体行业
汽车行业
胶水点胶
资料中心
传感器演示软件
SDK(软件开发包)
资料下载
视频中心
公司视频
案例视频
新闻资讯
技术资讯
立仪新闻
常见问答
771771威尼斯.cm大全
公司简介
公司文化
发展历程
荣誉资质
公司环境
联系我们
0755-2826 3345
En
En
首页
光谱共焦位移传感器
光谱共焦位移传感器
光谱共焦位移控制器
光谱共焦镜头
核心产品
核心产品
光谱共焦位移传感器
白光干涉仪
激光位移传感器
膜厚仪
应用案例
应用案例
玻璃行业
面板显示
手机3C
医疗行业
半导体行业
汽车行业
胶水点胶
资料中心
资料中心
传感器演示软件
SDK(软件开发包)
资料下载
视频中心
新闻资讯
新闻资讯
技术资讯
立仪新闻
常见问答
771771威尼斯.cm大全
应用案例
首页
>
应用案例
>
半导体行业
半导体行业
透明材料高反金属等材料上面的精密点胶测量
查看详情
芯片贴装平面度，倾斜度检测
芯片贴装平面度，倾斜度检测
查看详情
螺母测量
段差，台阶，粗糙度，平面度，轮廓。 可应用在五金塑胶，手机摄像头框，中框，卡托等行业。
查看详情
螺母测量，螺纹测量，粗糙度，平面度，轮廓测量
手机金属螺母段差，台阶，粗糙度，平面度，轮廓测量。可应用在五金塑胶，手机摄像头框，中框，卡托等行业。
查看详情
晶圆形貌测量，晶圆测高，晶圆侧厚，晶圆轮廓扫描-771771威尼斯.cm大全
硅片表面形貌测量，晶圆表面形貌测量,通过三维形貌测量仪进行表面形貌扫描，来分析晶圆的高度及微观形貌.推荐产品 D27 系列，角度±30 度，量程 1mm
查看详情
螺纹孔的深度测量，螺纹孔段差测量
螺纹孔的深度测量，推荐产品D27系列，角度±30度，量程3mm
查看详情
前往
1
2
页
共2页/ 14条数据
1
2
